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微电子和半导体用检验系统
快速检测，快速响应
在微电子和半导体行业中，检验、过程控制或缺陷和故障分析的速度至关重要。检测缺陷的速度越快，您做出响应的速度也就越快。
视场宽敞 30%
DM3 XL 检验系统凭借大视场帮助您的团队更快地识别缺陷，提高您的收益率。充分利用独特的宏观物镜，视场宽敞 30%。
ecopipette
CAPP Bravo
CAPP Trio
CAPP Microbiology
CAPP Maestro电动移液器
CAPP Aero96
CAPP Aero384
CAPP Tronic电动多通道移液器